On-Chip Debug and Test Interface With Improper Access Control and Improper Protection against Electromagnetic Fault Injection (EM-FI) in Nordic Semiconductor nRF52810 allow attacker to perform EM Fault Injection and bypass APPROTECT at runtime, requiring the least amount of modification to the hardware system possible.
総合評価: CVE-2025-9709 は低リスク(38.8/100)。CVSS 深刻度は高。悪用される可能性が高い(EPSS 0.22%、12 パーセンタイル) 推奨対応: 悪用情報と EPSS の推移を監視し、必要に応じて優先度を見直してください。
リスクは変動します。再評価に基づき、本ページの表示内容を更新しています。
EPSS は日次で悪用されやすさの相対度合いを推定します。パーセンタイルは採点済み CVE の中での相対位置(高いほど相対的に深刻)を示します。
| # | 日付 | 旧 EPSS スコア | 新 EPSS スコア | Δ(新 − 旧) |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 2026-06-15 | 0.04% | 0.22% | +0.18% |
| 2 | 2026-02-01 | 0.06% | 0.04% | -0.02% |
| 3 | 2026-01-05 | — | 0.06% | — |
EPSS の全履歴 (全 4 件)
この CVE の CVSS 指標。
| ベーススコア | バージョン | 深刻度 | ベクトル | 悪用しやすさ | 影響 | スコアの出典 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 8.6 | 4.0 | HIGH |
|
— | — | 1c6b5737-9389-4011-8117-89fa251edfb2 |
| ベンダー | 製品 | バージョン | 生の CPE |
|---|---|---|---|
| データセットに影響を受ける製品はありません。 | |||