CVE-2012-2915

Exp

Stack-based buffer overflow in Lattice Semiconductor PAC-Designer 6.2.1344 allows remote attackers to execute arbitrary code via a long string in a Value tag in a SymbolicSchematicData definition tag in PAC Design (.pac) file.

公開： 2012-05-21 最後更新： 2026-06-16 指派方： [email protected] 來源： [email protected]
NVD 狀態：Modified，CVE 狀態： published
檢視： NVD, CVE.org, EUVD

CVE-2012-2915 綜合評估為高可利用風險（81.5/100）：CVSS 技術影響為嚴重級，利用機率偏高（EPSS 29.47%，百分位 98%） 已收錄 2 筆公開利用參考（Exploit-DB）。 存在公開利用—請盤點暴露面、落實緩解措施並優先修補。

風險隨態勢動態變化；本站持續評估並同步更新本頁展示內容。

CVE-2012-2915 的公開 exploit 引用（Exploit-DB）

EDB-ID 來源 類型 公開時間 連結
19175 exploit_db edb 2012-06-17 Exploit-DB ↗
19006 exploit_db edb 2012-06-07 Exploit-DB ↗

CVE-2012-2915 的 EPSS（利用預測評分）

EPSS 日更估計相對被利用可能性；百分位表示該 CVE 在已評分漏洞中的相對排名（越高表示相對更嚴重）。

# 日期 舊 EPSS 分數 新 EPSS 分數 變化（新 − 舊）
1 2026-06-15 66.07% 29.47% -36.61%
2 2025-03-30 68.66% 66.07% -2.58%
3 2025-03-29 — 68.66% —

完整 EPSS 歷史 （共 21 筆）

CVE-2012-2915 的 CVSS 指標

該 CVE 的 CVSS 指標。

底座分 版本 嚴重度 向量 可利用性 影響 分數來源
9.3 2.0 HIGH
AV:N/AC:M/Au:N/C:C/I:C/A:C 點擊展開
存取路徑 (AV:N)
只要路由可達，即可從遠端發動利用。
存取複雜度 (AC:M)
需要若干有利條件，但不必「千年一遇」。
認證 (AU:N)
全程無需有效身分。
機密性影響 (C:C)
機密性被完全破壞。
完整性影響 (I:C)
完整性被完全破壞。
可用性影響 (A:C)
可用性被完全破壞。
 8.6 10.0 [email protected]

CVE-2012-2915 的弱點列舉

CVE-2012-2915 的影響軟體 / 設定

廠商 產品 版本 原始 CPE
lattice_semiconductor pac-designer 6.2.1344 cpe:2.3:a:lattice_semiconductor:pac-designer:6.2.1344:*:*:*:*:*:*:*

CVE-2012-2915 的參考連結

cvelogic Threat Intelligence